SJ/T 10741-2000 半導(dǎo)體集成電路 ＣＭＯＳ電路測(cè)試方法的基本原理
作者：百檢網(wǎng) 時(shí)間：2022-10-28
標(biāo)準(zhǔn)簡(jiǎn)介
本規(guī)范規(guī)定了半導(dǎo)體集成電路CMOS電路（以下簡(jiǎn)稱(chēng)器件）電特性測(cè)試方法的基本原理。本規(guī)范適用于半導(dǎo)體集成電路集成電路CMOS電路電特性的測(cè)試。英文名稱(chēng)：Semiconductor integrated circuits-General principles of measuring methods for CMOS circuits
標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài)：現(xiàn)行
替代情況：SJ/T 10741-1996(原標(biāo)準(zhǔn)號(hào)GB 3834-1983)
中標(biāo)分類(lèi)：電子元器件與信息技術(shù)>>微電路>>L55微電路綜合
ICS分類(lèi)：電子學(xué)>>31.200集成電路、微電子學(xué)
發(fā)布部門(mén)：信息產(chǎn)業(yè)部
發(fā)布日期：2000-12-28
實(shí)施日期：2001-03-01
作廢日期：2011-08-15
出版日期：2001-02-01
頁(yè)數(shù)：37頁(yè)
前言
SJ/T 17574-1998 半導(dǎo)體器件集成電路 第2部分：數(shù)字集成電路SJ/T 10734-1996 半導(dǎo)體集成電路文字符號(hào) 電參數(shù)文字符號(hào)相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)
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