作者:百檢網(wǎng) 時(shí)間:2022-10-29
標(biāo)準(zhǔn)簡介
本標(biāo)準(zhǔn)適用于非本征單晶半導(dǎo)體材料樣品或相同導(dǎo)電類型重?fù)揭r底上沉積已知電阻率的同質(zhì)外延層中的少數(shù)載流子擴(kuò)散長度的測量。要求樣品或外延層厚度大于4倍的擴(kuò)散長度。 本標(biāo)準(zhǔn)修改采用SEMI MF 391-1106《非本征半導(dǎo)體中少數(shù)載流子擴(kuò)散長度的穩(wěn)態(tài)表面光電壓測試方法》。本標(biāo)準(zhǔn)與SEMI MF 391-1106相比主要有如下變化:———標(biāo)準(zhǔn)格式按GB/T 1.1要求編排;———將SEMI MF 391-1106中的部分注轉(zhuǎn)換為正文;———將SEMI MF 391-1106中部分內(nèi)容進(jìn)行了編排。前言
本標(biāo)準(zhǔn)修改采用SEMIMF391-1106《非本征半導(dǎo)體中少數(shù)載流子擴(kuò)散長度的穩(wěn)態(tài)表面光電壓測試方法》。本標(biāo)準(zhǔn)與SEMIMF391-1106相比主要有如下變化:---標(biāo)準(zhǔn)格式按GB/T1.1要求編排;---將SEMIMF391-1106中的部分注轉(zhuǎn)換為正文;---將SEMIMF391-1106中部分內(nèi)容進(jìn)行了編排。本標(biāo)準(zhǔn)由全國有色金屬標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)提出并歸口。本標(biāo)準(zhǔn)由有研半導(dǎo)體材料股份有限公司負(fù)責(zé)起草。本標(biāo)準(zhǔn)主要起草人:孫燕、盧立延、杜娟、李俊峰、翟富義。1、檢測行業(yè)全覆蓋,滿足不同的檢測;
2、實(shí)驗(yàn)室全覆蓋,就近分配本地化檢測;
3、工程師一對一服務(wù),讓檢測更精準(zhǔn);
4、免費(fèi)初檢,初檢不收取檢測費(fèi)用;
5、自助下單 快遞免費(fèi)上門取樣;
6、周期短,費(fèi)用低,服務(wù)周到;
7、擁有CMA、CNAS、CAL等權(quán)威資質(zhì);
8、檢測報(bào)告權(quán)威有效、中國通用;
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