YS/T 34.2-2011 高純砷化學分析方法 極譜法測定硒量
作者：百檢網 時間：2022-10-30
標準簡介
本標準規定了高純砷中硒含量的測定方法。本標準適用于砷(99.999%)中硒含量的測定。測定范圍: 0.00005%～0.00015%。英文名稱：Method for chemical analysis of the high-purity arsenic—Predicating method for determinating the concentration of selenium
標準狀態：現行
替代情況：替代YS/T 34.3-1992
中標分類：冶金>>金屬化學分析方法>>H17半金屬及半導體材料分析方法
ICS分類：冶金>>金屬材料試驗>>77.040.30金屬材料化學分析
發布部門：工業和信息化部
發布日期：2011-12-20
實施日期：2012-07-01
出版日期：2012-07-01
頁數：8頁
前言
YS/T34《高純砷化學分析方法》包括3個部分:———第1部分:高純砷化學分析方法 電感耦合等離子體質譜法(ICP-MS)測定高純砷中雜質含量;———第2部分:高純砷化學分析方法 *譜法測定硒量;———第3部分:高純砷化學分析方法 *譜法測定硫量。本部分是YS/T34的第2部分。本部分代替YS/T34.3—1992《高純砷化學分析方法 *譜法測定硒量》。本部分按照GB/T1.1—2009《標準化工作導則 第1部分:標準的結構和編寫》的規定編寫。本部分由全國有色金屬標準化技術委員會歸口。本部分負責起草單位:峨嵋半導體材料廠。本部分主要起草人:程高明、唐云博。本部分所代替標準的歷次版本發布情況為:———YS/T34.3—1992。相關標準
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