YD/T 1690.6-2007 電信設備內部電磁發射診斷技術要求和測量方法(150kHz～1GHz)第6部分:傳導發射測量 磁場探頭方法
作者：百檢網 時間：2022-11-02
標準簡介
本部分規定了用微型磁場探頭以非接觸的電流測量方式來測量集成電路（IC）的管腳的射頻電流的方法。本方法可以在150kHz～1GHz頻率范圍內測量由IC產生的射頻電流。本部分適用于單個IC的測量或者用于標準測試板上的IC芯片組的描述和比較。英文名稱：Interior of Telecommunication Equipment-Measurement of Electromagnetic Emissions-150kHz to 1GHz Part 6:Measurement of Conducted Emissions-Magnetic Probe Method
標準狀態：現行
中標分類：電子元器件與信息技術>>電子元器件與信息技術綜合>>L06電磁兼容
ICS分類：電信、音頻和視頻技術>>電磁兼容性(EMC)>>33.100.10發射
發布日期：2007-09-29
實施日期：2008-01-01
頁數：18
前言
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