JJF 1760-2019 硅單晶電阻率標準樣片校準規范
作者：百檢網 時間：2022-11-03
標準簡介
本規范適用于電阻率在0.003 Ω·cm～1 000 Ω·cm之間的硅單晶電阻率標準樣片的校準。英文名稱：Calibration Specification for Standard Slices of Single Crystal Silicon Resistivity
標準狀態：現行
替代情況：替代JJG 48-2004
發布部門：國家市場監督管理總局
發布日期：2019-09-27
實施日期：2020-03-27
出版日期：2020-05-01
頁數：28頁
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