GB/T 25185-2010 表面化學分析 X射線光電子能譜 荷電控制和荷電校正方法的報告
作者：荀彧 時間：2022-11-25
【英文標準名稱】: Surface chemical analysis—X-ray photoelectron spectroscopy—Reporting of methods used for charge control and charge correction
【中文標準名稱】: 表面化學分析 X射線光電子能譜 荷電控制和荷電校正方法的報告
【標準號】: GB/T 25185-2010
【標準狀態】: 即將實施
【發布日期】: 2010-09-26
【實施日期】: 2011-08-01
【發布部門】: 中華人民共和國國家質量監督檢驗檢疫總局;中國國家標準化管理委員會
【起草單位】: 北京師范大學分析測試中心
【起草人】: 吳正龍
【標準技術委員會】: 全國微束分析標準化技術委員會
【中國標準分類號】: G04
【國際標準分類號】: 71_040_40
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