1范圍
本標(biāo)準(zhǔn)給出了絕緣柵雙*晶體管(IGBT)的術(shù)語,文字符號,基本額定值和特性以及測試方法等產(chǎn)品特定要求。
2規(guī)范性引用文件
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IEC 60747-1;2006半導(dǎo)體器件﹑第1部分:總則(Semiconductor devices--Part 1:General)
IEC 60747-2半導(dǎo)體器件﹑分立器件和集成電路第⒉部分:整流二*管(Semiconductordevices--Discrete devices and integrated circuits--Part 2:Rectifier diodes)
IEC 60747-6半導(dǎo)體器件﹑第6部分:晶閘管(Semiconductor devices—-Part 6;Thyristors)IEC 61340(所有部分)靜電(Electrostatics)
序號 | 檢測標(biāo)準(zhǔn) | 檢測對象 | 檢測項目 | |
---|---|---|---|---|
1 | 半導(dǎo)體器件 分立器件 第9部分:絕緣柵雙極晶體管(IGBT) | 半導(dǎo)體IGBT電路 | 低溫測試 | |
2 | 半導(dǎo)體器件 分立器件 第3部分:信號(包括開關(guān))和調(diào)整二極管 | 半導(dǎo)體IGBT電路 | 反向恢復(fù)時間t<Sub>rr</Sub> | |
3 | 半導(dǎo)體分立器件試驗方法 GJB 128A-1997 3472 | 半導(dǎo)體IGBT電路 | 開關(guān)時間(t<Sub>d(on)</Sub>,t<Sub>r</Sub>,t<Sub>f</Sub>,t<Sub>d(off)</Sub>) | |
4 | 半導(dǎo)體器件的試驗方法 標(biāo)準(zhǔn)試驗方法 MIL-STD-750F 3472.2 | 半導(dǎo)體IGBT電路 | 開關(guān)時間(t<Sub>d(on)</Sub>,t<Sub>r</Sub>,t<Sub>f</Sub>,t<Sub>d(off)</Sub>) | |
5 | 半導(dǎo)體器件 分立器件 第9部分:絕緣柵雙極晶體管(IGBT) | 半導(dǎo)體IGBT電路 | 最大集電極電流I<Sub>C</Sub> | |
6 | 半導(dǎo)體器件 分立器件 第9部分:絕緣柵雙極晶體管(IGBT) | 半導(dǎo)體IGBT電路 | 柵極-發(fā)射極閾值電壓V<Sub>GE(ON)</Sub> | |
7 | 半導(dǎo)體器件 分立器件 第9部分:絕緣柵雙極晶體管(IGBT) | 半導(dǎo)體IGBT電路 | 柵極漏電流I<Sub>GES</Sub> | |
8 | 半導(dǎo)體器件 分立器件 第9部分:絕緣柵雙極晶體管(IGBT) | 半導(dǎo)體IGBT電路 | 柵電荷(Qg,Qgs,Qgd) |
1、項目招投標(biāo):出具權(quán)威的第三方CMA/CNAS資質(zhì)報告;
2、上線電商平臺入駐:質(zhì)檢報告各大電商平臺認可;
3、用作銷售報告:出具具有法律效應(yīng)的檢測報告,讓消費者更放心;
4、論文及科研:提供專業(yè)的個性化檢測需求;
5、司法服務(wù):提供科學(xué)、公正、準(zhǔn)確的檢測數(shù)據(jù);
6、工業(yè)問題診斷:驗證工業(yè)生產(chǎn)環(huán)節(jié)問題排查和修正;
1、電話溝通、確認需求;
2、推薦方案、確認報價;
3、郵寄樣品、安排檢測;
4、進度跟蹤、結(jié)果反饋;
5、出具報告、售后服務(wù);
6、如需加急、優(yōu)先處理;
1、檢測行業(yè)全覆蓋,滿足不同的檢測;
2、實驗室全覆蓋,就近分配本地化檢測;
3、工程師一對一服務(wù),讓檢測更精準(zhǔn)
4、免費初檢,初檢不收取檢測費用
5、自助下單 快遞免費上門取樣;
6、周期短,費用低,服務(wù)周到;
7、擁有CMA、CNAS、CAL等權(quán)威資質(zhì);
8、檢測報告權(quán)威有效、中國通用;