1引言
通常,本標準與IEC 747-1—1983《半導體分立器件和集成電路總則第1部分―總則》一起使用。在IEC 747-1中可找到下列全部基礎資料:
——術語;
一—文字符號;
一—基本額定值和特性;——測試方法;
一—接收和可靠性。
本標準各章的編排順序符合IEC 747-1第章第2.1條的規定。
2范圍
本標準給出了下列幾種類型雙*型晶體管的標準:——小功率信號晶體管(不包括開關用的),
——功率晶體管(不包括開關和高頻用的);——放大和振蕩用高頻功率晶體管;
——開關用晶體管。
序號 | 檢測標準 | 檢測對象 | 檢測項目 | |
---|---|---|---|---|
1 | 半導體分立器件和集成電路 第7部分:雙極型晶體管 | 半導體晶體管(達林頓,三極管模塊,開關管) | 低溫測試 | |
2 | 半導體器件的試驗方法 標準試驗方法 MIL-STD-750F 3036.1、3071、3066.1、3041.1、3011.2、3076.1 | 半導體晶體管(達林頓,三極管模塊,開關管) | 低溫測試 | |
3 | 半導體分立器件和集成電路 第7部分:雙極型晶體管 | 半導體晶體管(達林頓,三極管模塊,開關管) | 發射極-基極反向擊穿電壓V<Sub>(BR)EBO</Sub> | |
4 | 半導體分立器件和集成電路 第7部分:雙極型晶體管 | 半導體晶體管(達林頓,三極管模塊,開關管) | 發射極-基極反向截止電流I<Sub>EBO </Sub> | |
5 | 半導體分立器件試驗方法 GJB 128A-1997 3472 | 半導體晶體管(達林頓,三極管模塊,開關管) | 開關時間測試(t<Sub>d(on)</Sub>,t<Sub>r</Sub>,t<Sub>f</Sub>,t<Sub>d(off)</Sub>) | |
6 | 半導體分立器件和集成電路 第7部分:雙極型晶體管 | 半導體晶體管(達林頓,三極管模塊,開關管) | 開關時間測試(t<Sub>d(on)</Sub>,t<Sub>r</Sub>,t<Sub>f</Sub>,t<Sub>d(off)</Sub>) | |
7 | 半導體器件的試驗方法 標準試驗方法 MIL-STD-750F 3472.2 | 半導體晶體管(達林頓,三極管模塊,開關管) | 開關時間測試(t<Sub>d(on)</Sub>,t<Sub>r</Sub>,t<Sub>f</Sub>,t<Sub>d(off)</Sub>) |
1、項目招投標:出具權威的第三方CMA/CNAS資質報告;
2、上線電商平臺入駐:質檢報告各大電商平臺認可;
3、用作銷售報告:出具具有法律效應的檢測報告,讓消費者更放心;
4、論文及科研:提供專業的個性化檢測需求;
5、司法服務:提供科學、公正、準確的檢測數據;
6、工業問題診斷:驗證工業生產環節問題排查和修正;
1、電話溝通、確認需求;
2、推薦方案、確認報價;
3、郵寄樣品、安排檢測;
4、進度跟蹤、結果反饋;
5、出具報告、售后服務;
6、如需加急、優先處理;
1、檢測行業全覆蓋,滿足不同的檢測;
2、實驗室全覆蓋,就近分配本地化檢測;
3、工程師一對一服務,讓檢測更精準
4、免費初檢,初檢不收取檢測費用
5、自助下單 快遞免費上門取樣;
6、周期短,費用低,服務周到;
7、擁有CMA、CNAS、CAL等權威資質;
8、檢測報告權威有效、中國通用;