范圍
本標準規定了確定液壓系統的油液中固體顆粒污染等級所采用的代號。
規范性引用文件
下列文件中的條款通過本標準的引用而成為本標準的條款。凡是注日期的引用文件,其隨后所有的修改單(不包括勘誤的內容)或修訂版均不適用于本標準,然而,鼓勵根據本標準達成協議的各方研究是否可使用這些文件的*新版本。凡是不注日期的引用文件,其*新版本適用于本標準。
GB/T 18854—2002液壓傳動﹐液體自動顆粒計數器的校準(ISO 11171;1999,MOD)ISO 4407;1991液壓傳動油液污染用顯微鏡計數法測定顆粒污染
ISO 11500:1997液壓傳動利用遮光原理自動計數測定顆粒污染
序號 | 檢測標準 | 檢測對象 | 檢測項目 | |
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1 | 半導體集成電路時基電路測試方法的基本原理 | 半導體集成電路時基電路 | 復位電壓V<Sub>R | |
2 | 半導體集成電路時基電路測試方法的基本原理 | 半導體集成電路時基電路 | 復位電流I<Sub>R | |
3 | 半導體集成電路時基電路測試方法的基本原理 | 半導體集成電路時基電路 | 控制端電壓V<Sub>C | |
4 | 半導體集成電路時基電路測試方法的基本原理 | 半導體集成電路時基電路 | 觸發電壓V<Sub>TR | |
5 | 半導體集成電路時基電路測試方法的基本原理 | 半導體集成電路時基電路 | 觸發電流I<Sub>TR | |
6 | 半導體集成電路CMOS電路測試方法的基本原理 | 半導體集成電路時基電路 | 輸出低電平電壓V<Sub>OL | |
7 | 半導體集成電路CMOS電路測試方法的基本原理 | 半導體集成電路時基電路 | 輸出高電平電壓V<Sub>OH | |
8 | 半導體集成電路時基電路測試方法的基本原理 | 半導體集成電路時基電路 | 閾值電壓V<Sub>T | |
9 | 半導體集成電路時基電路測試方法的基本原理 | 半導體集成電路時基電路 | 閾值電流I<Sub>T | |
10 | 半導體集成電路時基電路測試方法的基本原理 | 半導體集成電路時基電路 | 靜態電源電流I<Sub>+ |
1、項目招投標:出具權威的第三方CMA/CNAS資質報告;
2、上線電商平臺入駐:質檢報告各大電商平臺認可;
3、用作銷售報告:出具具有法律效應的檢測報告,讓消費者更放心;
4、論文及科研:提供專業的個性化檢測需求;
5、司法服務:提供科學、公正、準確的檢測數據;
6、工業問題診斷:驗證工業生產環節問題排查和修正;
1、電話溝通、確認需求;
2、推薦方案、確認報價;
3、郵寄樣品、安排檢測;
4、進度跟蹤、結果反饋;
5、出具報告、售后服務;
6、如需加急、優先處理;
1、檢測行業全覆蓋,滿足不同的檢測;
2、實驗室全覆蓋,就近分配本地化檢測;
3、工程師一對一服務,讓檢測更精準
4、免費初檢,初檢不收取檢測費用
5、自助下單 快遞免費上門取樣;
6、周期短,費用低,服務周到;
7、擁有CMA、CNAS、CAL等權威資質;
8、檢測報告權威有效、中國通用;