電壓比較器檢測
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主題內容與適用范圍
本標準規定了半導體集成電路電壓比較器(以下簡稱器件)電特性測試方法的基本原理。
本標準適用于半導體集成電路電壓比較器電特性的測試。
引用標準
GB3431.1半導體集成電路文字符號 電參數文字符號
檢測標準
| 序號 | 檢測標準 | 檢測對象 | 檢測項目 | |
|---|---|---|---|---|
| 1 | 半導體集成電路 電壓比較器測試方法的基本原理 | 電壓比較器 | 低電平輸出電流I<Sub>OL</Sub> | |
| 2 | 半導體集成電路 電壓比較器測試方法的基本原理 | 電壓比較器 | 開環電壓增益A<Sub>VD</Sub> | |
| 3 | 半導體集成電路 電壓比較器測試方法的基本原理 | 電壓比較器 | 輸入偏置電流I<Sub>IB</Sub> | |
| 4 | 半導體集成電路 電壓比較器測試方法的基本原理 | 電壓比較器 | 輸入失調電壓V<Sub>IO</Sub> | |
| 5 | 半導體集成電路 電壓比較器測試方法的基本原理 | 電壓比較器 | 輸入失調電流I<Sub>IO</Sub> | |
| 6 | 半導體集成電路 電壓比較器測試方法的基本原理 | 電壓比較器 | 輸出低電平電壓V<SUB>OL</SUB> | |
| 7 | 半導體集成電路 電壓比較器測試方法的基本原理 | 電壓比較器 | 輸出高電平電壓V<Sub>OH</Sub> | |
| 8 | 半導體集成電路 電壓比較器測試方法的基本原理 | 電壓比較器 | 靜態功耗P<Sub>D</Sub> | |
| 9 | 半導體集成電路 電壓比較器測試方法的基本原理 | 電壓比較器 | 高電平輸出電流I<Sub>OH</Sub> |
檢測報告作用：
1、項目招投標：出具權威的第三方CMA/CNAS資質報告；
2、上線電商平臺入駐：質檢報告各大電商平臺認可；
3、用作銷售報告：出具具有法律效應的檢測報告，讓消費者更放心；
4、論文及科研：提供專業的個性化檢測需求；
5、司法服務：提供科學、公正、準確的檢測數據；
6、工業問題診斷：驗證工業生產環節問題排查和修正；
百檢檢測流程：
1、電話溝通、確認需求；
2、推薦方案、確認報價；
3、郵寄樣品、安排檢測；
4、進度跟蹤、結果反饋；
5、出具報告、售后服務；
6、如需加急、優先處理；
檢測檢測特點：
1、檢測行業全覆蓋，滿足不同的檢測；
2、實驗室全覆蓋，就近分配本地化檢測；
3、工程師一對一服務，讓檢測更精準
4、免費初檢，初檢不收取檢測費用
5、自助下單 快遞免費上門取樣；
6、周期短，費用低，服務周到；
7、擁有CMA、CNAS、CAL等權威資質；
8、檢測報告權威有效、中國通用；
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