主題內容
本標準規定了在實驗室對半導體分立器件開展失效分析的方法和一般程序。
適用范圍
本標準適用于半導體分立器件(以下簡稱器件)的失效分析。
應用指南
開展失效分析時,應根據失效器件的種類、結構、失效模式和失效機理等因素來決定所要采用的失效分析方法和程序。本標準給出的失效分析程序,分析人員可據此開展失效分析工作,也可依實際工作情況適當變更分析程序,以達到分析目的。
引用文件
GJB 128A-97 半導體分立器件試驗方法
GJB 360A-96電子及電氣元件試驗方法
GJB 548A-96 微電子器件試驗方法和程序
1、項目招投標:出具權威的第三方CMA/CNAS資質報告;
2、上線電商平臺入駐:質檢報告各大電商平臺認可;
3、用作銷售報告:出具具有法律效應的檢測報告,讓消費者更放心;
4、論文及科研:提供專業的個性化檢測需求;
5、司法服務:提供科學、公正、準確的檢測數據;
6、工業問題診斷:驗證工業生產環節問題排查和修正;
1、電話溝通、確認需求;
2、推薦方案、確認報價;
3、郵寄樣品、安排檢測;
4、進度跟蹤、結果反饋;
5、出具報告、售后服務;
6、如需加急、優先處理;
1、檢測行業全覆蓋,滿足不同的檢測;
2、實驗室全覆蓋,就近分配本地化檢測;
3、工程師一對一服務,讓檢測更精準
4、免費初檢,初檢不收取檢測費用
5、自助下單 快遞免費上門取樣;
6、周期短,費用低,服務周到;
7、擁有CMA、CNAS、CAL等權威資質;
8、檢測報告權威有效、中國通用;
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