服務(wù)背景
sem檢測(cè)就是掃描電鏡檢測(cè)，隨著科學(xué)技術(shù)的發(fā)展，掃描電鏡已成為檢測(cè)固體物質(zhì)的重要手段。利用電子顯微術(shù)力求觀察到更微小的物體結(jié)構(gòu)，甚至單個(gè)原子;力求從試樣上得到更多的信息，以便對(duì)其進(jìn)行各種研究。由于掃描電鏡具有分辨能力高，景深長(zhǎng)，視野大，成像富有立體感，可以直接觀察樣品凹凸不平的表面，例如金屬斷口，催化劑表面，無(wú)機(jī)非金屬材料的形貌等等。用掃描電鏡還可以進(jìn)行電子通道花樣分析，從而研究試樣微區(qū)的晶體學(xué)位向，晶體對(duì)稱性，應(yīng)變稱度和位錯(cuò)密度等問(wèn)題。
檢測(cè)內(nèi)容
掃描電子顯微鏡主要用于對(duì)材料形貌/尺寸進(jìn)行觀察并分析，對(duì)帶有鍍層的材料膜層分析、對(duì)材料微區(qū)進(jìn)行EDS元素分析、細(xì)胞觀察，同時(shí)在對(duì)材料進(jìn)行失效分析時(shí)進(jìn)行元素測(cè)定、金相分析等。廣泛用于材料、化學(xué)、生物、醫(yī)學(xué)、地質(zhì)等領(lǐng)域。
“微譜分析”，是指通過(guò)微觀譜圖（光譜、色譜、質(zhì)譜、能譜、核磁共振譜、熱譜等）對(duì)未知成分進(jìn)行分析的技術(shù)方法。一款產(chǎn)品在研發(fā)、生產(chǎn)、質(zhì)控、使用過(guò)程中所有與成分相關(guān)的問(wèn)題都可以通過(guò)微譜分析尋找答案。
檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)
| 產(chǎn)品名稱 | 檢測(cè)項(xiàng)目 | 檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn) |
| sem檢測(cè) | 常規(guī)形貌 高分辨形貌 BSE背散射， 能譜EDS 點(diǎn)掃 線掃 面掃等 |
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