百檢網研究所在TOF-SIMS分析檢測服務領域經驗豐富，可出具CMA資質，擁有規范的工程師團隊。百檢網研究所始終以科學研究為主，以客戶為中心，在嚴格的程序下開展檢測分析工作，為客戶提供檢測、分析、還原等一站式服務，檢測報告可通過一鍵掃描查詢真偽。

檢測費用：免費初檢，根據客戶檢測需求以及實驗復雜程度進行報價。

檢測周期：3-5個工作日出具檢測報告。

聯系電話：400-101-7153或者在線咨詢，將有我們的研發工程師與您1對1溝通。

TOF-SIMS分析檢測用途

摻雜劑與雜質的深度剖析

薄膜的成份及雜質測定 (金屬、電介質、鍺化硅 、III-V族、II-V族)

超薄薄膜、淺植入的超高深度辨析率剖析

硅材料整體分析，包含B, C, O,以及N

工藝工具(離子植入)的高精度分析

TOF-SIMS分析檢測范圍

可對H-U元素進行定性分析(定量需標樣)，檢測*限可達ppm或更低的濃度。

良好的深度分辨率(0.1-1nm)，但濺射速率很慢(<1μm/H)。

*小小面積分析，小區域可達直徑80nm。

可分析有機物，能直接輸出有機物分子式;

可對元素進行面分布分析。

TOF-SIMS分析檢測標準

ASTM E1156 0190 2607-2011:報告次級離子質譜法(SIMS)中濺射深度截面數據的標準實施規程

ASTM E1438-2011:用次級離子質譜法(SIMS)測量深度摻雜分布界面寬度標準指南

百檢網研究所檢測優勢實力

保障：集體所有制科研所，科研項目全。

免費初檢：免費進行初檢，讓您檢測無憂。

周期更短：3-5個工作日可出具檢測報告。

優質服務：工程師1對1服務，全程項目跟進。

技術先進：博士團隊，歐美進口設備300余臺。

嚴謹公正：公檢法部門合作單位，科學準確。

多家分部：接受全國上門取樣/寄樣服務。

一鍵查詢：支持掃描查詢真偽，報告認可度高。

百檢網研究所報告用途

銷售：出具檢測報告，提成產品競爭力。

研發：縮短研發周期，降低研發成本。

質量：判定原料質量，減少生產風險。

診斷：找出問題根源，改善產品質量。

科研：定制完整方案，提供原始數據。

競標：報告認可度高，提高競標成功率。

百檢網研究所檢測流程

1、咨詢工程師，提交檢測需求。

2、送樣/郵遞樣品。

3、免費初檢，進行報價。

4、簽訂合同和保密協議。

5、進行方案定制、實驗。

6、出具實驗結果和檢測報告。

7、更多增值服務。

因為網站篇幅有限，只列舉了部分的檢測范圍和項目。詳情請撥打免費熱線：400-101-7153，將會有工程師為您1對1解答。百檢網研究所檢測實驗室，將會為您提供較優質的檢測服務!