絕緣電阻檢驗
絕緣電阻檢驗是指在連接器的絕緣部分施加電壓,從而使絕緣部分的表面或內部產生漏電電流而呈現出的電阻值。即絕緣電阻(MΩ)=加在絕緣體上的電壓(V)/泄露電流(μA)。過低的絕緣電阻產出的過大漏電流所產生的的熱和直流電解,將使絕緣破壞或使連接器的電性能變劣。
介質耐壓檢驗
介質耐壓檢測又稱抗電強度檢驗。它是連接器接觸與接觸件之間、接觸件與殼之間,在規定時間內事假規定的電壓,以此來確定連接器額定電壓下能否安全工作,能否耐受由于開關浪涌及其他類似現象所導致的過電位能力,從而評定電連接器絕緣材料或絕緣間隙是否合格。
從交流耐壓擊穿機理來分析,擊穿主要由泄露引起,即泄露電流大于規定值就認定擊穿。一般電連接器技術均需按國標GJ1217-91為電壓施加到規定值后持續1min應無擊穿、飛弧和放電現象。
接觸電阻檢驗
接觸電阻檢測是為了確定電流流經接觸件的接觸表面時產生的電阻。大電流通過高電阻觸點時,有可能產生過分的能量消耗,并使觸電產生危險的過熱現象。在很多應用的要求中接觸電阻要做到低且穩定,以使觸點上的電壓降不致影響電路的精度。
在實際測量接觸電阻時,常使用按開爾文電橋四端法原理設計的接觸電阻測試儀(毫歐計),實際測量總接觸電阻R可寫成表達式:R=R?+R?+R?(R?為集中電阻,R?為膜層電阻,R?為導體電阻)
除用毫歐計以為,也可用伏安法、安培電位計法測量接觸電阻。
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